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更新時間：2014-07-30 
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本標準規(guī)定了環(huán)境試驗設(shè)備（以下簡稱“設(shè)備”）基本參數(shù)鑒定方法所用術(shù)語、檢定條件、檢定儀器、檢定周期、檢定負載及檢定結(jié)果處理等基本要求。
本標準適用于電工電子產(chǎn)品進行環(huán)境試驗所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定，其他產(chǎn)品進行環(huán)境試驗所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定亦可參照使用。
GB 2421 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則
GB 11158 高溫試驗箱技術(shù)條件
3.1.1 環(huán)境條件 environmental condition
設(shè)備所經(jīng)受的周圍物理、化學(xué)和生物的條件。
表征環(huán)境條件的一個或幾個物理、化學(xué)和生物的特性參數(shù)（如溫度、濕度、加速度等）。
能同時模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗的設(shè)備。
能依次連續(xù)模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗的設(shè)備。
當檢定環(huán)境試驗設(shè)備時，按試驗方法要求所規(guī)定的環(huán)境參數(shù)值或按需要預(yù)先確定的環(huán)境參數(shù)值±±。
利用試驗設(shè)備進行環(huán)境試驗的樣品。
3.1.7 模擬負載 simulation load
根據(jù)有關(guān)標準規(guī)定制造的負載（一般應(yīng)考慮質(zhì)量、幾何尺寸、迎風(fēng)面積及熱容量等因素）。
試驗箱（室）內(nèi)壁所限定空間的實際容積，用m³表示。
試驗箱（室）中能將規(guī)定的試驗條件保持在規(guī)定偏差范圍內(nèi)的那部分空間。
代表試驗箱（室）工作空間狀態(tài)的點，一般取工作空間幾何中心點，也可根據(jù)具體情況選擇其他合適的點。
試驗箱（室）指示點的自身變化量達到設(shè)備本身性能指標要求時的狀態(tài)。
試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間內(nèi)任意一點溫度隨時間的變化量。
計算方法：試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間指示點溫度在30 min內(nèi)（每2min測試一次）的實測zui高溫度與zui低溫度差值的一半，冠以“±”號，計算公式如式（1）
△Tf =±（Tfmax - Tfmin）/2 ………………………………（1）
式中：△Tf------溫度波動度，C；
Tfmax------指示點在30 min內(nèi)的實測zui高溫度，C；
Tfmin-----指示點在30 min內(nèi)的實測zui低溫度，C；
3.2.6 溫度均勻度 temperature uniformity
試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各2測試點在30 min內(nèi)（每2min測試一次）每次測試中實測zui高溫度與zui低溫度之差的算術(shù)平均值，計算公式如式（2）
15
△Tu = 〔∑（Tjmax –Tjmin）〕15……………………………….(2)
J=1
式中：△Tu----溫度均勻度，C；
Tjmax-----各測試點在第j次測試中的實測zui高溫度，C；
Tjmin-----各測試點在第j次測試中的實測zui低溫度，C；
試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測試點在規(guī)定時間內(nèi)實測zui高溫度（Tjmax）和zui低溫度（Tjmin）與標稱溫度（TN）的上下偏差，計算公式如式（3）、式（4）：
上偏差：△Tmax = Tmax – TN ……………………………（3）
下偏差：△Tmin = Tmin – TN…………………………………（4）
試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測試點在規(guī)定時間內(nèi)的實測zui高相對濕度（Pmax）和zui低相對濕度（Hmin）與標稱相對濕度（HN）的上下偏差，計算公式如式（5）、式（6）：
上偏差：△Hmax = Hmax – HN ……………………………（5）
下偏差：△Hmin = Hmin – HN…………………………………（6）
試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間指示點在規(guī)定時間內(nèi)實測zui高氣壓（Pmax）和zui低氣壓（Pmin）與標稱氣壓值（PN）的上下偏差，計算公式如式（7）、式（8）：
上偏差：△Pmax = Pmax – PN ……………………………（7）
下偏差：△Pmin = Pmin – PN…………………………………（8）
試驗箱（室）在規(guī)定的時間間隔和規(guī)定的溫度范圍內(nèi)，工作空間指示點溫度連續(xù)上升或連續(xù)下降時單位時間的變化量，用℃/min表示。
試驗箱（室）在規(guī)定的時間間隔和規(guī)定的壓力范圍內(nèi)，工作空間氣壓（一般指取壓口的氣壓）連續(xù)上升或連續(xù)下降時單位時間的變化量，用kPa/min表示
試驗箱（室）在規(guī)定的溫度下達到穩(wěn)定狀態(tài)后，指示點溫度從置入負載到恢復(fù)到原穩(wěn)定狀態(tài)所需要的時間。
試驗箱（室）工作空間的鹽霧在規(guī)定面積上單位時間的自由沉降量，用mL/h.80cm²表示。
試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，規(guī)定輻射面上實測輻射強度與標稱輻射強度的zui大偏差值占標稱輻射強度的百分比。
試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各點在規(guī)定時間內(nèi)實測輻射強度與標稱輻射強度差值占標稱輻射強度的百分比。
試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測試點在3Omin內(nèi)zui高實測值與zui低實測值的算術(shù)平均值。
試驗箱（室）工作空間環(huán)境參數(shù)中值與標稱值的偏差值。
試驗箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)小，工作空間環(huán)境參數(shù)中值與試驗箱（室）指示儀表指示值之間的差值。
振動臺能滿足規(guī)定技術(shù)指標的工作頻率區(qū)間。
振動臺頻率指示值相對于實際值的偏差。
振動臺定頻振動時頻率維持不變的能力，用規(guī)定時間內(nèi)頻率的變化量表示。
振動臺掃頻振動時，頻率對時間的變化率相對于規(guī)定掃頻速率（每分鐘一個倍頻程）的偏差，用百分數(shù)表示。
振動臺振幅指示值相對于實際值的偏差。
振動臺掃頻振動時，振幅在頻率坐標上維持不變的能力，用控制點振幅實際值相對于設(shè)定值的偏差分貝（DB）數(shù)表示，按式（9）計算：
式中：N——定振精度，DB
ao——同次掃頻振動中控制點振幅的設(shè)定值；
al——同次掃頻振動中控制點振幅的實際值。
振動臺處于空載工作狀態(tài)，設(shè)定振幅為zui小（電動振動臺輸入激振信號為零）時，臺面中心點噪聲加速度的真有效值。
3.3.8 臺面漏磁 mesa magnetic leakage
電動振動臺系統(tǒng)勵磁裝置處于工作狀態(tài)，工作臺面上方規(guī)定高度平面上漏磁場zui大值。
在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)，振動臺以zui大振幅振動時輻射噪聲的zui大聲級。
3.3.10 安置計算半徑 mounting calculation radius
安裝在離心式恒加速度試驗機上的試驗樣品，其恒加速度值等于規(guī)定值處的回轉(zhuǎn)半徑。
在離心式恒加速度試驗機進行規(guī)定加速度試驗時，工作臺轉(zhuǎn)速維持不變的能力，用規(guī)定時間內(nèi)轉(zhuǎn)速變化量的百分數(shù)表示。
一般用GB 2421中5.3條規(guī)定的試驗標準大氣條件：
A. 溫度：15~35℃；
B. 相對濕度：45%~75%；
c. 氣壓：86~106 kPa。
注：① 對大型設(shè)備或基于某中原因，設(shè)備不能在上述條件下進行檢定時，應(yīng)把實際氣候條件記錄在檢定報告之內(nèi)。
② 當有關(guān)標準要求嚴格控制環(huán)境條件時，應(yīng)在該標準中另行規(guī)定。
電源條件如下：
a 電源電壓及允許誤差：220±22V，80±38V；
b 電源頻率及允許誤差：50±0.5Hz。
4.3 用水條件
4.3.1 冷卻水
冷卻水一般應(yīng)滿足下列條件：
a 進水溫度：5~30℃；
b 進水壓力：0.1~0.3 MPa。
4.3.2 加熱用水
采用蒸餾水或去離子水，其電阻率不小于500.m
其他條件如下：
a 設(shè)備周圍無強烈沖擊、振動、電磁場及腐蝕性氣體存在；
b 設(shè)備應(yīng)避免陽光直射或其他冷熱源影響。
5 檢定儀器
5.1 檢定系統(tǒng)的測量誤差應(yīng)不大于被測參數(shù)允許偏差的三分之一。
5.2 二次儀表與依次儀表應(yīng)一同校驗，并具有法定計量機構(gòu)有效期內(nèi)的檢定證書。
6 檢定周期
6.1 正常使用的設(shè)備以及設(shè)備上附有的各種儀表，每一年或二年（機械設(shè)備每一年、氣候設(shè)備每二年）至少逐臺進行一次檢定。
6.2 對設(shè)備的重要部位（指對試驗條件的變化有直接影響的部位）維修或更換后，應(yīng)立即進行檢定。
6.3 設(shè)備在安裝調(diào)試之后或啟封重新使用之前均應(yīng)進行檢定。
7 檢定負載
檢定設(shè)備一般應(yīng)在負載條件下進行，如在空載條件下檢定，應(yīng)在檢驗報告中說明。設(shè)備在負載條件下檢定時，特定負載應(yīng)從相應(yīng)的試驗樣品中選擇。氣候試驗箱的模擬負載應(yīng)符合GB 11158的有關(guān)規(guī)定，機械設(shè)備的模擬負載應(yīng)在相應(yīng)的設(shè)備檢定方法中具體規(guī)定。
注：新設(shè)備檢定時，檢定負載的具體選擇也可由設(shè)備供需雙方協(xié)商解決。
在確定受檢設(shè)備基本滿足上述三條內(nèi)容條件下，才能對設(shè)備進行檢定。
△Ta = Ta – TN ……………………………………………..（10）
式中：△Ta——溫度場調(diào)整值，℃;
Ta——溫度場中值，℃;
TN——溫度場標稱值，℃。
如果△Ta>0，說明溫度場偏高，需要將溫度場向低調(diào)整△Ta；如果△Ta<0，說明溫度場偏低，需要將溫度場向高調(diào)整△Ta.
在檢定過程中，如果發(fā)現(xiàn)試驗箱（室）工作間環(huán)境參數(shù)的實測值和設(shè)備指示儀表的指示值之間存在一個固定的差值，而且這個差值大于試驗箱（室）的允許偏差時，應(yīng)對設(shè)備的指示儀表進行修正，修正值如下方法計算（以溫度為代表）：
△Tc = Tm – Ti ……………………………………（11）
式中：△Tc——設(shè)備指示儀表修正值，℃；
Tm——設(shè)備溫度場中值，℃（每2 min測試一次）；
Ti——設(shè)備指示儀表30 min內(nèi)的溫度算術(shù)平均值，℃（每2 mni測試一次）。
其他環(huán)境參數(shù)的修正方法與溫度相同。
設(shè)備進行周期檢定時，各種檢定項目均應(yīng)填寫檢定記錄表。檢定記錄表上應(yīng)填寫受檢單位、受檢設(shè)備的型號名稱、出廠編號、生產(chǎn)廠名、設(shè)備編號、檢定儀器的型號名稱、檢定環(huán)境條件、檢定參數(shù)標稱值、設(shè)備儀表設(shè)定值及指示值，檢定原始數(shù)據(jù)、檢定結(jié)果、檢定日期和檢定校驗人員簽名等內(nèi)容。
如果檢定儀器系統(tǒng)的測量誤差不大于受檢設(shè)備允許偏差的三分之一時，儀器本身誤差可以忽略，檢定結(jié)果中的偏差主要由受檢設(shè)備引起。檢定結(jié)果符合有關(guān)標準規(guī)定，則判為“合格”，否則為“不合格”
檢定結(jié)果判為“合格”時應(yīng)填發(fā)“檢定證書”，檢定證書應(yīng)使用統(tǒng)一紙張，統(tǒng)一編號，并分為“封面”及“內(nèi)容”兩部分。
檢定證書封面主要包括：
a. 證書號；
b. 受檢設(shè)備名稱、型號、生產(chǎn)廠、出廠編號、設(shè)備編號；
C. 明確的結(jié)論；
d. 檢定、校驗、批準人員簽字；
e. 檢定單位公章；
f. 檢定日期、有效日期。
10.2.2 檢定證書內(nèi)容
檢定證書內(nèi)容應(yīng)包括檢定標稱值、設(shè)定值、設(shè)備儀表指示值、修正值、各測試點檢定數(shù)據(jù)、檢定結(jié)果和必要的檢定說明書等。
根據(jù)需要，檢定證書內(nèi)容還應(yīng)包括檢定儀表型號、名稱以及檢定標準依據(jù)等。
檢定結(jié)果判為“不合各”時應(yīng)填寫“檢定結(jié)果通知書”。“檢定結(jié)果通知書”和“檢定證書”的封面格式、填寫要求大致相同。
檢定結(jié)果采用“合格”、“準用”、“停用”三種標志，并分別用“合格證”（綠色）、“準用證”（黃色）、“停用證”（紅色），表示檢定“合格”、“準用”和“停用”。檢定標志應(yīng)貼在受檢設(shè)備顯著的位置上。
標志方式 | ||
合格證 （填寫檢定證書） | 準用書 （填寫檢定證書） | 停用證 （填寫檢定結(jié)果通知書） |
|
|
|
當受檢設(shè)備的個別參數(shù)或個別測試點，其檢定結(jié)果不能滿足技術(shù)指標的要求時，按以下辦法處理：
允許適當縮小受檢設(shè)備的工作空間，縮小后的工作空間應(yīng)滿足全部技術(shù)指標要求，但在檢定證書中必須給出限制性說明。
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